Name: Zuverlässige Bauelemente für Elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung (en Alemán)
Price: 805320.00 COP
Availability: InStock
Author: Titu-Marius I. Băjenescu
ISBN: 9783658221775

portada Zuverlässige Bauelemente für Elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung (en Alemán)

Formato

Libro Físico

Editorial

Springer Vieweg

Autor

Titu-Marius I. Băjenescu

Idioma

Alemán

N° páginas

639

Encuadernación

Tapa Dura

ISBN13

9783658221775

N° edición

Zuverlässige Bauelemente für Elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung (en Alemán)

Titu-Marius I. Băjenescu (Autor) · Springer Vieweg · Tapa Dura

Libro Nuevo

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Reseña del libro "Zuverlässige Bauelemente für Elektronische Systeme: Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung (en Alemán)"

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.