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Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization (Materials Characterization and Analysis Collection) (en Inglés)
Harland G. Tompkins; James N. Hilfiker (Autor)
·
Momentum Press
· Tapa Blanda
Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization (Materials Characterization and Analysis Collection) (en Inglés) - Harland G. Tompkins; James N. Hilfiker
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