Compartir
Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés)
Kumar, Samir ; Pathak, Chandra Shakher (Autor)
·
Intechopen
· Tapa Dura
Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés) - Kumar, Samir ; Pathak, Chandra Shakher
$ 676.792
$ 1.041.218
Ahorras: $ 364.426
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Viernes 19 de Julio y el
Martes 30 de Julio.
Lo recibirás en cualquier lugar de Colombia entre 1 y 5 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization (en Inglés)"
This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.
